DIC系統(tǒng)（日本SEIKA品牌）

數(shù)字圖像相關(guān)法（DIC）是一種非接觸式的高精度位移、用于全場(chǎng)形狀、變形、運(yùn)動(dòng)測(cè)量的方法，也是現(xiàn)代光測(cè)量力學(xué)領(lǐng)域內(nèi)最有應(yīng)用前景的測(cè)量方法。其應(yīng)用研究方向，正朝著從常規(guī)材料到新型材料的測(cè)量，從彈性問題測(cè)量到強(qiáng)塑性問題的測(cè)量，從常溫到高溫的測(cè)量，從宏觀測(cè)量到微觀測(cè)量的趨勢(shì)發(fā)展。DIC方法在上世紀(jì)80年代初被提出，經(jīng)過30多年眾多學(xué)者的研究，技術(shù)上已經(jīng)非常成熟。這種方法又被稱為數(shù)字散斑相關(guān)法，它直接處理的對(duì)象是具有一定灰度分布的數(shù)字圖像（散斑圖），通過對(duì)比材料或者結(jié)構(gòu)表面在變形前后的散斑圖運(yùn)用相關(guān)算法得到

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Seika公司（中文名：西華數(shù)碼影像公司）作為一家專業(yè)從事智能影像分析系統(tǒng)設(shè)計(jì)的高科技公司，在DIC系統(tǒng)的研發(fā)設(shè)計(jì)上已有多年經(jīng)驗(yàn)，并被全球眾多的科研單位及院校所認(rèn)可（中國獨(dú)家代理商：武漢中創(chuàng)聯(lián)達(dá)科技有限公司）。我們可以為您提供運(yùn)用數(shù)字圖像關(guān)聯(lián)法開發(fā)的應(yīng)變解析軟件系統(tǒng)。通過比較分析樣本變形前后的圖像，可以對(duì)變形和彎曲的量、方向、分布等進(jìn)行解析。通過使用本系統(tǒng)，能夠以非接觸的方式獲取物體變形彎曲的數(shù)據(jù)并將其分布可視化。對(duì)于高速測(cè)量、微米單位測(cè)量等特殊環(huán)境下的測(cè)量需要，我們可以在包括軟件、相機(jī)、照明、專用光學(xué)儀器等各個(gè)方面提供綜合性的解決方案。